国产手机在线精品,男女Xx00,欧美一级做a爰片久久高潮,久久久久久久A V

網(wǎng)站首頁技術中心 > 用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點
產(chǎn)品中心

Product center

用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點

發(fā)布時間:2023-08-16 點擊量:3979

用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點

評估 可以測量電池中的反應分布

特征

  1. 可以測量電池中的反應分布

    規(guī)范
    探測器1392×1040(像素)CCD
    像素大小20×20微米
    線性保證高達吸光度4
    測量時間測量時間點 1000
    最小測量時間間隔10(秒)
    波長405、450、570、630、810(納米)
    溫度控制37°C±0.1°C
  2. 由于它是斬波器系統(tǒng),因此可以消除外部光線和噪音。

  3. 光密度是根據(jù)樣品相對于參考的透射率計算的。

  4. 可以任意間隔進行連續(xù)測量。

  5. 選項多點測量 使用偏振棱鏡進行極化率測量 波長下的透射率測量

OD4-蘋果手機 多波長圖像測量系統(tǒng)

它是一種可以通過移動終端測量的系統(tǒng)。