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日本yamabun新款適用于軟薄膜和薄膜的測厚儀TOF-C2

發(fā)布時間：2022-02-28　點擊量：719

日本yamabun新款適用于軟薄膜和薄膜的測厚儀TOF-C2

模型TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號
測量方法非接觸式/電容式
測量對象薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量原理電容式


產(chǎn)品特點

  • 高測量分辨率

  • 由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜。

  • 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。

  • 基重測量

  • 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

產(chǎn)品規(guī)格
測量厚度~ 500 微米
測量長度10 至 10000 毫米
測量間距1 毫米 ~
最小顯示值0.01微米
電源電壓AC100V 50 / 60Hz
工作溫度限制5-40℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
濕度35-80%（無冷凝）