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渦流相位薄膜測厚儀

渦流相位薄膜測厚儀

產(chǎn)品型號： Facescope PMP10

所屬分類：測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10
PHASCOPE ® PMP10
這是渦流相位型膜厚計。適用于測量表面粗糙的薄膜、螺絲頭、小零件、通孔鍍銅等薄膜厚度。

詳細說明：

日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10

 

PHASCOPE ® PMP10

 

這是渦流相位型膜厚計。適用于測量表面粗糙的薄膜、螺絲頭、小零件、通孔鍍銅等薄膜厚度。

特征

  • 適用于粗糙表面、小零件、通孔鍍銅等的膜厚測量。
  • 也適用于測量鐵上鎳層的膜厚
  • 您可以直接測量抗蝕劑膜下印刷電路板上的銅膜厚度。

日本fischer渦流相位薄膜測厚儀Facescope PMP10 

主要規(guī)格

測量方法渦流相位方程
測量范圍各種連接探針的

銅膜厚度（PCB等通孔內(nèi)）：5 -80 µm PCB等銅膜厚度
：1 --270 µm
地面Fe Cu膜：1 --200 µm
Fe Zn 地面膜: 2-200 µm
地面Fe Ni膜：1-50µm (240kHz), 2-100µm (60kHz)
地面Fe Zn或Cu膜：1-150µm
測量記錄20,000例
車身尺寸230 毫米 x 95 毫米 x 52 毫米（長 x 寬 x 高）
液晶顯示器62 毫米 x 43 毫米（寬 x 高）
重量約 600g（主機和電池）
電源供應4.8V 電池，交流適配器（100-240V）

主要應用

  • 印制電路板銅膜厚度
  • 印刷電路板上通孔銅厚
  • 螺絲頭等鐵上鋅的厚度


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